茂育——品牌科教设备销售中心 各种实训设备长期提供
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创新型检测及控制实验实训平台,创新型检测及控制实验实训装置,创新型检测及控制实验实训设备能满足传感器与检测技术课程群的实验需求,并且具有占用空间小、挂箱设计规范、互换性强,从基本实验到构成完整系统在一台实验装置上便可以全部实现。避免了不同课程需要不同实验装置、占用空间大、难以构成完整系统、不方便实施综合性和设计型实验的麻烦。
(1)8155接口模块 (2)8255接口模块 (3)8279键盘显示接口模块 (4)8253可编程定时器模块 (5)硬件看门狗电路模块 (6) I2C EEROM模块 (7)8250模块 (8)8251模块 |
(9)I2C存储器模块 (10)I2C时钟模块 (11)单次脉冲模块 (12)93C46串行EEPROM模块 (13)红外线收发模块 (14)DS18B20数字温度传感器模块 (15)开关量输入模块 (16)关量输出模块 |
模块名称 |
功能指标 |
51系列CPU模块 |
支持80C31、80C51,含32K SRAM、64K ROM组成数据总线、地址总线和控制总线 |
Cygnal51CPU模块 |
采用美国Cygnal公司的嵌入式单片机C8051F020芯片,含32K SRAM,组成数据总线、地址总线和控制总线 |
译码模块 |
采用LATTICE公司的ispLSI1016E完成整个系统的译码工作 |
模块名称 |
功能指标 |
8位并行AD模块 |
由AD0809模数转换电路组成8路8位AD。 |
8位并行DA模块 |
由两只DA0832数模转换电路组成2路8位DA。 |
12位并行AD模块 |
由AD574模数转换电路组成12位AD。 |
12位并行DA模块 |
由TLV5613数模转换电路组成12位DA。 |
I/O 扩展模块 |
由两块74LS244芯片扩展成16路并行输入电路。 由两块74LS273芯片扩展成16路并行输出电路。 用74LS164芯片组成串转并输出电路。 用74LS165芯片组成并转串输入电路。 |
转换模块 |
用LM311实现V/F电路和F/V电路 用TLC549芯片组成串行AD转换电路。 用TLC5615芯片组成串行DA转换电路。 |
模块名称 |
功能指标 |
RS232/RS485/CAN总线通信模块 |
由MAX232芯片组成RS232通信电路,MAX485芯片组成RS485通信电路。 由SJA1000芯片和TJA1050芯片组成CAN总线电路。 |
USB通信模块 |
由1581芯片组成USB2.0通信模块 |
网络控制器模块 |
采用RTL8019AS芯片 |
模块名称 |
功能指标 |
静态显示模块 |
由74LS164芯片驱动 |
动态显示模块 |
采用8位8段LED数码管。 |
液晶显示模块 |
提供128*64点阵的液晶显示屏 |
CPLD模块 |
采用LATTICE公司1032芯片 |
4*4行列式键盘 |
公共键盘 |
模块名称 |
功能指标 |
继电器模块 |
由两个5V继电器、2个12V继电器和2个24V继电器组成。 |
光耦隔离模块 |
由3个TLP521-4芯片组成12入12出。 |
LED显示模块 |
用16个LED灯组成逻辑电平测试电路 |
开关量模块 |
用16个按键组成高低电平输出电路 |
模块名称 |
功能指标 |
IC卡读写模块 |
I2C总线实现IC卡的读写及识别 |
直流电机 |
带驱动小直流电机,测速部分由1个霍尔传感器组成 |
步进电机 |
采用四相步进电机,带驱动电路 |
交通灯模块 |
采用16个LED灯和四位数码管组成。 |
语音处理模块 |
采用1730专用语音芯片组成 |
PWM调制模块 |
由324运放芯片组成,用于小直流电机调速 |
序号 |
名称 |
单位 |
数量 |
备注 |
1 |
实验控制屏 |
套 |
1 |
|
2 |
实验桌 |
张 |
1 |
|
3 |
挂箱与模块 |
套 |
1 |
传感器由多种传感器和信号调理模块 |
套 |
1 |
控制器单元挂箱 |
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套 |
1 |
信号转换单元挂箱 |
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套 |
1 |
通信与打印机单元挂箱 |
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套 |
1 |
键盘与显示单元挂箱 |
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套 |
1 |
对象控制单元挂箱(一) |
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套 |
1 |
对象控制单元挂箱(二) |
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套 |
1 |
ARM9单元挂箱 |
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套 |
1 |
信号与系统实验挂箱 |
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套 |
1 |
自控原理与计算机控制挂箱 |
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套 |
1 |
测控电路实验挂箱模块 |
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套 |
1 |
DSP CPU 挂箱 |
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4 |
常用工具 |
套 |
1 |
一字螺丝刀1把;十字螺丝刀1把;剥线钳1把;尖嘴钳1把。 |
5 |
实验说明书 |
套 |
1 |
指导学生实训 |
1)金属箔式应变片一单臂电桥性能实验 (2)金属箔式应变片一半桥性能实验 (3)金属箔式应变片一全桥性能实验 (4)直流全桥的应用一电子秤实验 (5)交流全桥的应用一振动测量实验 (6)扩散硅压阻压力传感器差压测量实验 (7)差动变压器的性能实验 (8)激励频率对差动变压器特性的影响实验 (9)差动变压器零点残余电压补偿实验 (10)差动变压器的应用一一振动测量实验 (11)电容式传感器的位移特性实验 (12)电容传感器动态特性实验 (13)直流激励时霍尔式传感器的位移特性实验 (14)交流激励时霍尔式传感器的位移特性实验 (15)霍尔测速实验 (16)霍尔式传感器振动测量实验 |
(17)磁电式转速传感器的测速实验 (18)压电式传感器振动实验 (19)电涡流传感器的位移特性实验 (20)被测体材质、面积大小对电涡流传感器的特性影响实验 (21)光纤传感器的位移特性实验 (22)光电转速传感器的转速测量实验 (23)PTl0温度控制实验 (24)集成温度传感器AD590的温度特性验 (25)铂电阻温度特性实验 (26)K型热电偶测温实验 (27)E型热电偶测温实验 (28)气敏传感器实验 (29)湿敏传感器实验 (30)转速控制实验 |
31)光栅尺测量实验 (32)光电编码器实验 (33)环境噪声测量实验 |
(34)光照强度测量实验 (35)红外反射式传感器物件计数实验 (36)色标传感器颜色识别实验 |
1.清零程序 2.拆字程序 3.拼字程序 4.数据区传送子程序 5.数据排序实验 |
6.查找相同数据个数 7.无符号双字节快速乘法子程序 8.多分支程序 9.多分支程序 10.电脑时钟实验 |
1.P1口亮灯实 2.P1口转弯灯实验 3.P3.3口输入,P1口输出实验 4.工业顺序控制实验 5.8255 A、B、C口输出方波实验 6.8255 PA口控制PB口 7.8255控制交通灯 8.简单I/O扩展实验 9.并行ADC 0809转换实验 10.并行DAC 0832转换实验 11.8279键盘显示实验 *12.通用打印机实验 13.微型打印机实验 14.I2C储存卡读写实验 15.语音芯片ISD173控制实验(录音) 16.语音芯片ISD1730控制实验(放音) 17.继电器控制实验 18.步进电机控制 19.8253方波实验 20.小直流电机调速实验 21.16*16 LED点阵显示实验 22.128*64 LCD液晶显示实验 23.8250可编程异步通讯接口实验 24.8251可编程通讯接口实验 25.单片机RS232/485串行发送实验 26.单片机RS232/485串行接收实验 |
27.DS18B20单总线温度测量实验 28.红外线遥控收发实验 29.串行A/D TLC549转换实验 30.串行10位D/A TLC5615转换实验 31.PCF8563 I²C日历时钟实验 32.MAX813看门狗实验 33.PWM脉宽调制实验 34.74LS164串并转换 35.74LS165并串转换 36.LM331 V/F转换实验 37.AT24C02 I2C总线存储器读写实验 38.串行存储芯片93C46读写实验 39.电子音乐演奏实验 40.CAN总线通讯接口实验 41.以太网TCP/IP协议接口实验 42.USB2.0通讯接口实验 43.LM331 F/V转换实验 44.LM331 V/F转换实验 45.AD574 12位并行模数转换实验 46.TLV5613 12位并行数模转换实验 47.4*4行列式键盘实验 48.8位静态显示器实验 49.8位动态显示器实验 50.光耦隔离模块实验 51.模拟十字路口交通灯实验 |
(1) 数字I/O口交叉开关设置实验 (2) UART串能通讯实验 (3) 配置内部和外部振荡器实验 (4) 片内模数转换(ADC)实验 (5) I/O输入、输出实验 (6) 片内数模转换(DAC)实验 |
(7) 定时器实验 (8) SRAM外部数据存储器扩展实验 (9) 外部中断实验 (10) SPI串行Flash存储器数据读写实验 (11) 计数器实验 |
A、验证性实验 (1)CCS操作实验 (2)存储器实验 (3)跑马灯实验 (4)数码显示实验 (5)硬件中断实验 (6)定时器实验 (7)步进电机控制实验 (8)DSP同步串口与计算机的串口(RS232)通讯 (9)DSP的HPI与计算机的并口(EPP)通讯 (10)向量相加、减实验 (11)矩阵相乘 (12)浮点数到Q15、Q15到浮点数数据转换 (13)FIR滤波器实验 (14)IIR滤波器实验 (15)黑白图像采集实验 B、综合性实验: (16)液晶显示实验 (17)简单数字存储示波器实验 (18)同步串口(16位AD、DA)实验 (19)HPI接口实验 (20)自适应滤波器(DLMS)实验 (21)卷积(convole)算法实验 (22)自相关算法 (23)互相关算法 (24)语音录、放实验 (25)实时IIR滤波器实验 (26)图像处理之图像取反 (27)图像处理之灰度阈值变换 C、设计性实验 (28)直流伺服电机测速控制实验 (29)温度传感器、液晶显示实验 (30)HPI接口BOOTLOAD实验 (31)在线FLASH烧写及16或8位并行自举 (32)快速傅立叶变换(FFT)算法实验 (33)信号采集.存储.传输(PC机与DSP)实验 (34)温度、速度双闭环控制电机 (35)键盘输入液晶显示实验 (36)语音FIR滤波(低通.高通.带通.带阻)实验 (37)实时LMS滤波器实验 (38)FFT实验 |
D、创新性实验 (39)声控电机实验 (40) 语音G711编码、解码实验 (41)语音G723编码、解码实验 (42)图像处理之灰度窗口变换 (43)图像处理之对比度增强 (44)YUV彩色图象处理之图象取反实验 4.ARM9实验项目:基础实验: (1)安装WINCE并建立开发环境 (2) 建立并编译WIN CE平台 (3)WINDOWS CE的烧写 (4)定制SDK并建立EVC下的开发环境 (5)定制增强型内核 (6)建立宿主机与实验箱的连接 (7)继电器实验 (8) 蜂鸣器实验 (9)DIP实验 (10)IIC总线—温度实验 (11) IIC总线—EEPROM实验 (12) IIC总线—DA实验 (13)EXTKEY中断程序 (14)GPIO LED实验 (15)LED点阵实验 (16)EVC下的HELLO WORLD实验 (17) 液晶屏坏点测试程序 (18) 录音机测试程序 (19) 简单聊天室程序(CE版) (20) 视频点播VOD实验 (21)CEPLAYER播放器实验 (22) 串口通讯测试程序(对话框版) 扩展实验: (23)485通讯程序 (24) GPS实验 (25) 电机实验 (26) 射频卡实验 (27) 摄像头图像采集实验 (28) GPRS实验 (29) ZIGBEE实验 (30) 指纹实验 (31) CAN总线通讯实验 |
(1)键盘、LED发光管实验 (2)行列式键盘、动态显示实验 (3)单片机控制的PWM实现D/A转换 (4)单片机控制PWM实现F/V转换 (5)测量电机转速实验 (6)单片机控制电机转速实验(D/A) (7)单片机控制电机转速实验(PWM) (8)温度采集实验 (9)IC卡原理实验 (10)考勤机实验 (11)身份认证实验 (12)门禁系统设计 (13)单片机实现Pc机键盘控制器实验 |
(14)用单片机实现高精度脉冲测频 (15)单片机实现的线性V/F转换实验 (16)基于微机控制通信的单片机通用数据采集系统 (17)基于以太网的远程数据采集系统 (18)IC系统实验 (19)R8485总线实验 (20)简单多任务实时操作系统实验 (21)智能家居远程控制模拟系统设计 (22)单片机以太网实验 (23)远程抄表系统 (24)基于USB的数据采集卡设计 (25)家庭智能报警系统 |
(1)基本运算单元实验 (2)阶跃响应与冲激响应实验 (3)连续时间系统的模拟实验 (4)有源、无源滤波器实验 (5)抽样定理与信号恢复实验 (6)二阶网络状态轨迹的显示实验 (7)一阶电路的暂态响应实验 |
(8)二阶电路的暂态响应实验 (9)二阶电路传输特性实验 (10)二阶网络函数的模拟实验 (11)矩形脉冲信号的分解实验 (12)矩形脉冲信号的合成实验 (13)谐波幅度对波形合成的影响实验 (14)面包板单元,可自行设计实验电路。 |
(1)A/D,D/A转换 (2)采样保持器 (3)数字滤波 (4)积分分离式PID控制 (5)最小拍有纹波系统实验 |
(6)最小拍无纹波系统实验 (7)大林算法控制 (8)非线性控制 (9)解耦控制 (10)综合控制实验 |
1.典型环节的模拟研究 2. 典型系统瞬态响应和稳定性 3.系统校正 4. 控制系统的频率特性 5.典型非线性环节 |
6. 非线性系统(一) 7.非线性系统(二) 8. 采样系统分析 9.采样控制系统的校正 l0. 状态反馈(极点配置) |
(3)控制系统实验项目 1.直流电机闭环调速实验 2.温度闭环控制实验 3.步进电机调速实验 测控电路实验 1.差动放大器实验; 2.信号放大器实验; 3.信号运算电路实验; 4.电压比较器实验; |
5.电阻链分相细分实验; 6.幅度调制及解调实验 7.调相电桥实验; 8.脉宽调制电路实验; 9.调频及鉴频实验; 11.开关式相乘调制及解调实验; 12.精密整流全检波实验; 13.开关式全波相敏检波实验。 |